Máy đo độ dày FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ

Danh mục: Chưa phân loại

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ được thiết kế là thiết bị để bàn thân thiện với người dùng. Thiết bị được trang bị bàn dịch chuyển XY có độ chính xác cao, có thể lập trình, cùng với trục Z điều khiển bằng điện.

Vỏ máy có khe mở ở bên hông, cho phép đo cả những mẫu có kích thước lớn, ví dụ như bo mạch PCB. Khi mở nắp bảo vệ, bàn đặt mẫu sẽ tự động di chuyển về vị trí nạp mẫu, giúp thao tác thuận tiện và an toàn hơn.


Catalogue

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ
Yêu cầu báo giá

Máy đo độ dày FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ

Fill out this field
Vui lòng nhập địa chỉ email hợp lệ.
Fill out this field
Fill out this field
Fill out this field

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ là thiết bị đo tia X tán sắc năng lượng (EDXRF) có tính ứng dụng rộng rãi. Thiết bị đặc biệt phù hợp cho phân tích và đo độ dày lớp phủ theo phương pháp không phá hủy trên các linh kiện và cấu trúc có kích thước rất nhỏ, kể cả đối với các hệ lớp phủ phức tạp.

SẢN PHẨM CÙNG LOẠI

phone
phone