ISP XRF equipment
ED-XRF Thickness Analyzer -iEDX-200AT chất lượng cao
Danh mục: Chưa phân loại
Catalogue
Yêu cầu báo giá
ED-XRF Thickness Analyzer -iEDX-200AT chất lượng cao
ED-XRF Thickness Analyzer -iEDX-200AT chất lượng cao
I Giới thiệu -iEDX-200AT chất lượng cao
Bởi vì lượng năng lượng giải phóng khi tia X chiếu vào phần phủ có mối quan hệ với độ dày của vật liệu, độ dày được đo bằng cách sử dụng tia X huỳnh quang của vật liệu bên dưới được kích thích hoặc hấp thụ ở vật liệu bên dưới và độ dày lớp phủ.
Huỳnh quang tia X của lớp phủ, Tia X huỳnh quang được phát hiện ở đáy kim loại là một nguyên tắc.
II Thông số kĩ thuật của iEDX-200AT
|
Measurement Methods
|
Energy Dispersive X-ray Analysis
|
|
Sample Type
|
Multi-Layer, Solid/Liquid/Powder
|
|
X-ray Tube
|
W Target, 50kVp 1mA
|
|
Filter
|
5 Filter Auto Change
|
|
Detection System
|
SDD(Silicon Drift Detector), Si-Pin Diode(Peltier System)
|
|
Energy Resolution
|
135 eV FWHM at Mn Ka
|
|
Detection Element
|
AI(13)~U(92)
|
|
Measurement Area
|
0.1, 0.2, 0.4, 0.5, 1mm, auto change
|
|
Application Language
|
Korean/English/Chinese
|
|
Analyze Method
|
FP/Calibration Curve, Fluorescence, Absorption
|
|
Sample Monitoring
|
CCD Camera
|
|
Control System
|
DeskTop, USB Interface
|
|
Size of sample chamber
|
500 x 470 x 200mm(W x D x H), Wide PCB Support
|
|
Distance of Sample move
|
200 x 200 x 150mm(X x Y x Z)
|
|
Size
|
550 x 700 x 570mm(W x D x H)
|
|
Power
|
110/220VAC 50/60Hz
|
|
Weight
|
85kg(NET)
|
