Máy đo độ dày FISCHER COULOSCOPE® CMS2 and CMS2 STEP chất lượng cao

Nhiều lớp phủ đơn và đa lớp thường gặp trong thực tế có thể được đo chính xác bằng thiết bị COULOSCOPE® CMS2.

Catalogue

Khi độ dày lớp phủ vượt quá một giới hạn nhất định, việc sử dụng huỳnh quang tia X (XRF) để đo độ dày lớp phủ theo phương pháp không phá hủy sẽ đạt tới giới hạn của nó. Trong trường hợp này, COULOSCOPE® CMS2 là giải pháp phù hợp.

Thiết bị sử dụng phương pháp đo coulometric để đo độ dày của hầu hết các lớp phủ kim loại một cách chính xác và đáng tin cậy, thông qua quá trình tách lớp phủ bằng điện phân.

Đây là thiết bị để bàn, dễ sử dụng, mang lại tính linh hoạt cao, vì có thể áp dụng cho nhiều loại kết hợp khác nhau giữa lớp phủ và vật liệu nền.