FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD máy đo chất lượng cao

Đo lớp phủ chức năng trong ngành điện tử và bán dẫn, ví dụ xác định độ dày lớp vàng xuống tới 2 nm.
Phân tích các lớp phủ mỏng và rất mỏng trong ngành điện tử và bán dẫn, như lớp vàng/palladium ≤ 0,1 μm.
Xác định các hệ lớp phủ đa lớp phức tạp.
Đo độ dày lớp phủ cho các ứng dụng pin mặt trời (photovoltaic), pin nhiên liệu và pin lưu trữ.
Phân tích hàm lượng vết của các chất nguy hại như chì (Pb) và cadimi (Cd) theo các tiêu chuẩn RoHS, WEEE, CPSIA và các quy định khác cho sản phẩm điện tử, bao bì và hàng tiêu dùng.
Phân tích và kiểm tra tính xác thực của vàng, kim loại quý và các hợp kim kim loại quý.
Xác định trực tiếp hàm lượng phốt pho trong các lớp phủ chức năng NiP (Nickel–Phosphorus).
Xác định hàm lượng kim loại trong bể mạ điện (electroplating baths).

Catalogue

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD là một trong những thiết bị phân tích huỳnh quang tia X (XRF) mạnh mẽ nhất trong danh mục sản phẩm của Fischer. Model cao cấp này giúp nâng cao hiệu suất đo lên một cấp độ mới.

Khi kết hợp với bộ xử lý xung số DPP+ do Fischer tự phát triển, thiết bị có thể xử lý tốc độ đếm (count rate) cao hơn, từ đó giảm thời gian đo hoặc cải thiện độ lặp lại và độ chính xác của kết quả đo.