Helmut Fischer Fischerscope XRF-X-Ray XDL 220 máy đo độ dày chất lượng cao

Đo kiểm các chi tiết sản xuất hàng loạt được mạ điện (electroplating).
Kiểm tra các lớp phủ mỏng, ví dụ như lớp mạ crom trang trí.
Phân tích các lớp phủ chức năng trong ngành điện tử và bán dẫn.
Đo kiểm tự động, ví dụ trên bo mạch PCB.
Phân tích dung dịch trong quá trình mạ điện.

Catalogue

Máy quang phổ huỳnh quang tia X (XRF) dùng cho đo độ dày lớp phủ bằng phương pháp thủ công hoặc tự động trên các lớp phủ bảo vệ và trang trí, các chi tiết sản xuất hàng loạt và bo mạch PCB.

Dòng FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 220 là các máy quang phổ tia X tán sắc năng lượng (EDXRF) có tính ứng dụng đa dạng. Đây là bước phát triển tiếp theo của dòng thiết bị FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B đã được chứng minh hiệu quả trước đó. Tương tự như các phiên bản tiền nhiệm, thiết bị đặc biệt phù hợp cho đo độ dày lớp phủ không phá hủy và phân tích các lớp phủ mỏng, đo kiểm trên các chi tiết sản xuất hàng loạt và bo mạch PCB, cũng như phân tích dung dịch.

Thiết bị đạt tốc độ đếm cao nhờ sử dụng ống đếm tỷ lệ (proportional counter tube), cho phép thực hiện các phép đo có độ chính xác cao. Với phương pháp tham số cơ bản Fischer (Fischer Fundamental Parameter Method), các hệ lớp phủ cũng như mẫu rắn và mẫu lỏng có thể được phân tích mà không cần mẫu chuẩn. Hệ thống có khả năng phát hiện đồng thời tới 24 nguyên tố trong khoảng từ clo (17) đến uranium (92).

Các máy quang phổ tia X XDL có độ ổn định lâu dài rất cao, điều này giúp giảm đáng kể công việc hiệu chuẩn trong quá trình sử dụng.